X線吸収分光(XAFS)測定
X線吸収分光(XAFS)測定
XAFS測定はX線のエネルギーを掃引し、吸収係数を測定する手法です。吸収係数は原子番号に強く依存するため、元素選択的なアプローチができます。また、固体に限らず液体や薄膜など、幅広い材料系に適用が可能です。測定には、高輝度な連続波長光源が必要であるため、大型放射光施設KEK, Photon FactoryやSPring-8で実験を行います。
XAFS測定はX線のエネルギーを掃引し、吸収係数を測定する手法です。吸収係数は原子番号に強く依存するため、元素選択的なアプローチができます。また、固体に限らず液体や薄膜など、幅広い材料系に適用が可能です。測定には、高輝度な連続波長光源が必要であるため、大型放射光施設KEK, Photon FactoryやSPring-8で実験を行います。